Mar 26, 2025 Ostavite poruku

Višenamjenski digitalni fosforni osciloskop OWON 4. generacije

 

Osnovne tehničke inovacije

 

● Ultra-nizak šum i visoka razlučivost

Koristi X-Vision III arhitekturu s osnovnim šumom od samo 200 μV, što omogućuje preciznu analizu signala na razini μV-.

●12-bitna okomita rezolucija(proširivo do 16-bita u poboljšanom načinu rada), podržava snimanje signala visokog dinamičkog raspona.

●Visoki kapacitet uzorkovanja i pohrane

Širina pojasa: 20MHz–500MHz (npr. serija ADS3000); Brzina uzorkovanja-u stvarnom vremenu do 2,5GSa/s; Dubina pohrane od 100 Mpts osigurava dugo-snimanje valnog oblika.

●Brzina snimanja valnog oblika: 500 000–750 000 wfms/s (u slijednom načinu rada), značajno poboljšavajući otkrivanje prolaznih anomalija.

●Hibridna analiza signala

Podržava 4 analogna + 16 digitalna kanala s hardverski-ubrzanim I2C/SPI/CAN/LIN dekodiranjem protokola za-raščlanjivanje signala sabirnice u stvarnom{4}}vremenu. Napredni načini pokretanja: okidači ruba, pulsa, prozora, logičkog i protokola.

Ključne aplikacije

 

●Novi dizajn energije i snage

μV-razina točnosti za analizu učinkovitosti fotonaponskog pretvarača MPPT i ispitivanje odziva petlje sustava za pohranu energije.

●Automobilska elektronika

Hardverski-dekodirani signali sabirnice CAN FD/LIN za provjeru integriteta ECU signala i dijagnozu buke senzora.

●5G i -brza komunikacija

Podržava analizu podrhtavanja PCIe 6.0 i analizu spektra RF signala za istraživanje i razvoj telekomunikacija.

●Istraživanje i obrazovanje

Proračunski modeli integriraju FFT analizu i generiranje Lissajousovog uzorka za sveučilišne laboratorije.

Konkurentske prednosti

 

●Troškovno{0}}učinkovita lokalizacija

●Softverski ekosustav

Daljinsko upravljanje putem SCPI naredbi i LabVIEW integracije; podržava automatizirane tijekove rada testiranja.

Trendovi tehničke evolucije

 

Inteligentna dijagnostika

Zeleno testiranje

Optoelektronička integracija

 

 

Pošaljite upit

Dom

Telefon

E-pošte

Upit